在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)與質(zhì)量控制中，電子元件的可靠性是確保產(chǎn)品性能的重要保障。

EDS（Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy）能譜分析是一種與掃描電子顯微鏡（SEM）或透射電子顯微鏡（TEM）聯(lián)用的元素分析技術(shù)。

這是一項(xiàng)看似簡(jiǎn)單但要求嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臏y(cè)試，任何條件的偏差都可能導(dǎo)致結(jié)果不可靠。

CB認(rèn)證是國(guó)際電工委員會(huì)（IEC）設(shè)立的一項(xiàng)國(guó)際性電氣產(chǎn)品安全認(rèn)證，它在全球范圍內(nèi)得到廣泛認(rèn)可。該認(rèn)證旨在消除國(guó)際貿(mào)易中的技術(shù)壁壘，提高產(chǎn)品的安全性和可靠性。

灼熱絲測(cè)試是一種評(píng)估電工電子產(chǎn)品、零部件及其材料（主要是固體絕緣材料）耐熱、耐燃和防引燃能力的模擬安全測(cè)試。其核心原理是：用一個(gè)預(yù)先加熱到特定溫度的灼熱絲作為模擬熱源，在規(guī)定壓力下接觸樣品一定時(shí)間，觀察樣品是否起燃或燃燒持續(xù)時(shí)間，以此評(píng)估其在故障過(guò)熱條件下…

耐壓測(cè)試與爆破壓力測(cè)試是產(chǎn)品質(zhì)量控制和安全性評(píng)估中的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，廣泛應(yīng)用于管件、閥門(mén)、容器、電氣設(shè)備及各種工業(yè)設(shè)備的檢測(cè)之中。隨著技術(shù)的發(fā)展與標(biāo)準(zhǔn)的嚴(yán)格化，企業(yè)和檢測(cè)機(jī)構(gòu)對(duì)耐壓及爆破壓力測(cè)試的重視程度日益提升。

氙弧燈老化試驗(yàn)作為電子電器產(chǎn)品環(huán)境可靠性測(cè)試中的重要手段

碳弧燈老化試驗(yàn)是電子電器產(chǎn)品以及各種材料耐久性檢測(cè)中的重要手段，不僅能夠模擬長(zhǎng)期使用過(guò)程中材料的光照老化效應(yīng)，還能揭示產(chǎn)品在實(shí)際使用環(huán)境下潛在的性能變化。