?隨著電子產(chǎn)品和電氣設(shè)備的廣泛應(yīng)用，電磁兼容（EMC）問題日益受到重視。EMC測試作為產(chǎn)品研發(fā)和市場準(zhǔn)入的重要環(huán)節(jié)，保障電子產(chǎn)品在其運(yùn)行環(huán)境中既不受外來電磁干擾，同時(shí)自身不會對其他設(shè)備造成干擾，是確保產(chǎn)品質(zhì)量與合規(guī)性的必要條件。

材料疲勞是指材料在交變或循環(huán)載荷作用下，發(fā)生結(jié)構(gòu)破壞的現(xiàn)象，載荷遠(yuǎn)低于材料的屈服強(qiáng)度和抗拉強(qiáng)度，經(jīng)過多次循環(huán)后仍可能導(dǎo)致斷裂。疲勞試驗(yàn)通過模擬材料在實(shí)際使用過程中的載荷條件，評估其承載極限和使用壽命。針對不同材料和實(shí)際工況，試驗(yàn)設(shè)計(jì)應(yīng)科學(xué)合理，以確保結(jié)果的…

電子元器件可靠性試驗(yàn)是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ)，也是電子元件和電小型的的儀器機(jī)器的組成部分，其本身常由若干零件構(gòu)成，可以在同類產(chǎn)品中通用，常指電器、無線電、儀表等工業(yè)零件，如電容、晶體管等子器件的總稱。

碳弧燈老化試驗(yàn)與氙燈老化試驗(yàn)是兩種常見的材料耐候性測試方法，兩者在光源特性、光譜匹配性、測試結(jié)果準(zhǔn)確性及應(yīng)用場景等方面存在顯著差異。

陽光碳弧燈老化試驗(yàn)是一種通過模擬自然陽光照射，評估材料耐候性（抗老化性能）的經(jīng)典測試方法。其核心是利用碳弧燈模擬太陽光的光譜分布，加速材料在光照、溫度、濕度等環(huán)境因素下的老化過程，從而預(yù)測材料在實(shí)際使用中的耐久性。

機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)檢測項(xiàng)目：沖擊試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、跌落試驗(yàn)。一、振動(dòng)試驗(yàn)1、振動(dòng)試驗(yàn)類別正弦振動(dòng)試驗(yàn)、隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)2、什么時(shí)候使用正弦振動(dòng)試驗(yàn)，什么時(shí)候使用隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)根據(jù)考核的相關(guān)目的和檢測標(biāo)準(zhǔn)來確定，一般考核產(chǎn)品在運(yùn)輸過程中受到的振動(dòng)通常采用隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)類型居多…

溫度變化試驗(yàn)主要用來確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品耐受環(huán)境溫度快速變化的能力。實(shí)現(xiàn)這一目的所需的各溫度下的暴露持續(xù)時(shí)間取決于試驗(yàn)樣品的特性。一、溫度變化試驗(yàn)的關(guān)鍵參數(shù)高溫溫度點(diǎn);低溫溫度點(diǎn);高低溫溫度點(diǎn)各暴露持續(xù)時(shí)間;轉(zhuǎn)換時(shí)間或變化速率;試驗(yàn)循環(huán)數(shù)。二、溫度變化試…

溫度變化試驗(yàn)主要用來確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品耐受環(huán)境溫度快速變化的能力。實(shí)現(xiàn)這一目的所需的各溫度下的暴露持續(xù)時(shí)間取決于試驗(yàn)樣品的特性。一、溫度變化試驗(yàn)的關(guān)鍵參數(shù)高溫溫度點(diǎn);低溫溫度點(diǎn);高低溫溫度點(diǎn)各暴露持續(xù)時(shí)間;轉(zhuǎn)換時(shí)間或變化速率;試驗(yàn)循環(huán)數(shù)。二、溫度變化試…