HAST測(cè)試注意事項(xiàng)：
測(cè)試過程要求每天記錄電源電壓、電流、環(huán)境溫度、殼溫(推算結(jié)溫)等關(guān)鍵數(shù)據(jù)。
注意芯片內(nèi)部模擬電路是否有上電默認(rèn)開啟的模塊，這樣的模塊會(huì)導(dǎo)致靜態(tài)電流太大，引起其他機(jī)制的失效。
調(diào)試過程注意，考慮到較大的電流引起壓降，電壓等的記錄應(yīng)該是到板電壓，而不是電源源端電壓。
調(diào)試過程注意，室溫條件下的電源電壓與規(guī)定要求下的電源電壓不同，可以在室溫下初調(diào)，待試驗(yàn)環(huán)境到達(dá)HAST設(shè)定條件后做最終調(diào)試。
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