高溫貯存試驗

高溫貯存試驗

一、試驗?zāi)康?/p>

通過高低溫試驗箱模擬環(huán)境溫度變化提高電子元器件環(huán)境溫度、濕度、溫度循環(huán)等適應(yīng)能力，加速元器件中可能發(fā)生或存在的化學(xué)反應(yīng)（如由水蒸汽或其他離子所引起的腐蝕作用，表面泄漏、污染以及金-鋁金屬化合物的產(chǎn)生等），提前消除潛在缺陷。

電子元器件的許多故障是由于體內(nèi)和表面的各種物理化學(xué)變化引起的。當(dāng)環(huán)境溫度升高后，化學(xué)反應(yīng)速率大大加快，故障過程也得到加速。有缺陷的元器件就會暴露。

高溫儲存試驗對表面污染、引線鍵合不良和氧化層缺陷有很好的篩選作用。

二、試驗原理

高溫儲存是在試驗箱中模擬高溫條件，對元器件施加高溫應(yīng)力（無電應(yīng)力），加快部件體內(nèi)和表面各種物理化學(xué)變化的化學(xué)反應(yīng)速率，加速故障過程，使有缺陷的部件盡快暴露；提前消除潛在缺陷。

高溫儲存篩選的特點：

 對于工藝和設(shè)計水平較高的成熟設(shè)備，由于設(shè)備本身非常穩(wěn)定；最大的優(yōu)點是操作簡便易行?？纱笈窟M(jìn)行試驗篩選，投資少，篩選效果好，是目前常用的篩選試驗項目。

三、試驗設(shè)備

高低溫試驗箱，適用于在高溫、低溫（交替）循環(huán)、恒溫變化下檢查基礎(chǔ)可靠性各項性能指標(biāo)的儀器設(shè)備。產(chǎn)品部件和材料可能在高溫下軟化、降低效率、特性變化、潛在損壞、氧化等現(xiàn)象。

四、試驗標(biāo)準(zhǔn)

高溫貯存試驗可參考標(biāo)準(zhǔn)GBT2423.1、GBT2423.2、GJB150.3A-2009、GJB150.4A-2009等。