絕緣阻抗(IR)測試是什么?

絕緣阻抗(IR)測試是什么?

絕緣電阻測試和耐壓測試非常相似。把最高達(dá)1000V的DC電壓施加到需要測試的兩點(diǎn)。IR測試給出的通常是以兆歐為單位的電阻值，而不是耐壓測試得出的Pass / Fail表示。一般典型的是，測試電壓為500V 直流，絕緣電阻(IR)的值不得低于幾兆歐。絕緣阻抗測試為非破壞試驗(yàn)，且能偵測絕緣是否良好，在某些規(guī)范中，是先做絕緣阻抗測試再進(jìn)行耐壓測試，而絕緣阻抗測試無法通過時(shí)，往往耐壓測試也無法通過。

耐壓測試與絕緣電阻測試之間有什么不同呢?

IR測試是一種定性測試，它給出絕緣系統(tǒng)的相對質(zhì)量的一個(gè)表示。通常用500V或1000V的DC 電壓進(jìn)行測試，結(jié)果用兆歐電阻來量測。耐壓測試也給被測物(DUT)施加高壓，但所加電壓比IR 測試的高。其可以在AC或DC電壓下進(jìn)行。結(jié)果用毫安培或微安來量測。在有些規(guī)格中，先進(jìn)行IR測試，接著再進(jìn)行耐壓測試。如果一個(gè)被測物(DUT)無法通過IR測試，則此被測物(DUT)也無法通過在更高的電壓下進(jìn)行的耐壓測試。

耐壓測試與電源泄漏測試測出的泄漏電流兩者有什么不同呢?

耐壓測試與電源泄漏測試之間是有一些差異，但一般而言, 這些差別可被概括如下。耐壓測試是利用高電壓對產(chǎn)品的絕緣加壓以確定是否產(chǎn)品的絕緣強(qiáng)度足夠防止過量的泄漏電流。泄漏電流測試是量測產(chǎn)品在使用下，在正常和電源單一故障狀態(tài)下所流經(jīng)產(chǎn)品的泄漏電流量。