低頻噪聲是電子元器件在低頻段頻率范圍內(nèi)的電噪聲（電子元器件內(nèi)部的載流子隨機運動引起的電壓或電流的漲落），頻率范圍一般在1Hz~300kHz。電子器件的低頻噪聲是表征電子元器件質(zhì)量和可靠性的敏感參數(shù)，制約著整機檢驗靈敏度、噪聲大小以及保真度、誤觸發(fā)率、分辨率等指標，由于低頻噪聲與元器件材料內(nèi)部的導電微粒的不連續(xù)性，以及半導體的摻雜濃度等工藝有關，在噪聲中包含大量器件物理特性信息，通過噪聲測試分析能得到噪聲與器件缺陷、材料以及結構之間的關聯(lián), 所以電子元器件的低頻噪聲特性可以用作質(zhì)量和可靠性檢驗評估方法，也可以幫助提升產(chǎn)品品質(zhì)。我國是電子元器件產(chǎn)品生產(chǎn)和使用大國，基于低頻噪聲技術的電子元器件可靠性無損檢測標準對于促進低頻噪聲技術的發(fā)展應用和提高電子元器件產(chǎn)品品質(zhì)具有重要意義。
電子系統(tǒng)以及電子器件噪聲測試與應用起始于洛倫茲1912年對電子隨機運動的研究, 其后隨著電子系統(tǒng)與電子器件的發(fā)展, 人們對噪聲測試研究的范圍也更加廣泛。電子元器件低頻噪聲參數(shù)測試方法是制定基于低頻噪聲參數(shù)的電子元器件可靠性無損評價方法的基礎。
相關的標準包括：
SJ/T 11765晶體管低頻噪聲參數(shù)測試方法
SJ/T 11766光電耦合器件低頻噪聲參數(shù)測試方法
SJ/T 11767 二極管低頻噪聲參數(shù)測試方法
SJ/T 11768電阻器低頻噪聲參數(shù)測試方法
SJ/T 11769 電子元器件低頻噪聲參數(shù)測試方法 通用要求
參考SJ/T 11769標準5.2章節(jié)中，對低頻噪聲測試系統(tǒng)的要求：
a）測試頻率范圍：最低頻率不高于1Hz，最高頻率不低于300kHz或被測電子元器件噪聲參數(shù)要求的測試頻率上限的10倍。
b）測試系統(tǒng)采樣率大于測試頻率上限的2倍。
c）測試系統(tǒng)的前置放大器增益誤差≤±1%。
d）測試系統(tǒng)的時間序列測試準確度：時基不確定度≤2%，幅度不確定度≤5%。
e）測試系統(tǒng)的頻譜測試：頻譜分辨率優(yōu)于1Hz，頻率不確定度≤2%，幅度不確定度≤5%。
f）測試系統(tǒng)與被測電子元器件采取屏蔽盒等外界干擾抑制措施，以減少電、磁、光和機械等環(huán)境因素引入的干擾，同時采用低噪聲電源，減少系統(tǒng)自身的噪聲，從而保證測試系統(tǒng)本底噪聲比被測電子元器件的噪聲低一個數(shù)量級以上或滿足電子元器件噪聲測試的相關要求。
由標準信息可知，測試低頻噪聲的關鍵，在于要有一臺有足夠低的本底噪聲的測試設備，北測集團擁有迄今為止業(yè)界最高性能和最多功能的雙通道音頻分析儀APX555。APX555是美國AP公司專注音頻測量行業(yè)30年后的巔峰之作，它擁有-120dB的典型剩余失真、高達1MHz的帶寬，120萬點的FFT，完整的24位分辨率，以及0.001Hz至80kHz的掃頻范圍，在指標參數(shù)上的表現(xiàn)極端苛刻。使用APX555還可以這臺設備的帶寬、采樣率、前置放大器增益誤差、時間序列測試準確度、頻譜分辨率等指標完美契合低頻噪聲的測試需求，充分保證了測試數(shù)據(jù)的權威性。這臺設備還可以按SJ/T 11769標準5.1章節(jié)中的要求，給被測物提供白噪聲干擾，同時進行噪聲的測試。
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