溫濕度環(huán)境試驗(yàn)主要有哪些項(xiàng)目？

測試項(xiàng)目： 高溫試驗(yàn)（高溫啟動、高溫貯存、高溫工作、高溫老化...）、低溫試驗(yàn)（低溫啟動、低溫貯存、低溫工作...）、冷熱沖擊試驗(yàn)（溫度沖擊試驗(yàn)）、交變濕熱試驗(yàn)、溫濕度組合循環(huán)測試、快速溫變試驗(yàn)、恒溫恒濕試驗(yàn)等  溫濕度試驗(yàn)適用于各類電子、電工、電器、塑膠、金屬、化學(xué)、建材、車輛、通訊、光纖、LED、液晶屏、儀表儀器、元器件、電路板、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的在環(huán)境下儲存、運(yùn)輸和使用的適應(yīng)性，安全性，持久性等。  

測試標(biāo)準(zhǔn)參考： 

 GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A： 低溫；  

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B： 高溫；  

GB/T 2423.3-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Cab：恒定濕熱試驗(yàn)； 

 GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Db：交變濕熱（12h＋12h 循環(huán)）；  

GB/T 2423.22-2012 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N：溫度變化；  

GB/T 2423.34-2012 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD： 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)； 

 IEC 60068-2-1：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫； 

 IEC 60068-2-1：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B：高溫； 

 IEC 60068-2-78：2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)；  

IEC 60068-2-30：2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Db：交變濕熱（12h＋12h 循環(huán)）；  

IEC 60068-2-14：2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N：溫度變化；  

IEC 60068-2-38：2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD： 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)；  

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