元器件低頻噪聲測(cè)試內(nèi)容有哪些

低頻噪聲是電子元器件在低頻段頻率范圍內(nèi)的電噪聲（電子元器件內(nèi)部的載流子隨機(jī)運(yùn)動(dòng)引起的電壓或電流的漲落），頻率范圍一般在1Hz~300kHz。電子器件的低頻噪聲是表征電子元器件質(zhì)量和可靠性的敏感參數(shù)，制約著整機(jī)檢驗(yàn)靈敏度、噪聲大小以及保真度、誤觸發(fā)率、分辨率等指標(biāo)，由于低頻噪聲與元器件材料內(nèi)部的導(dǎo)電微粒的不連續(xù)性，以及半導(dǎo)體的摻雜濃度等工藝有關(guān)，在噪聲中包含大量器件物理特性信息，通過(guò)噪聲測(cè)試分析能得到噪聲與器件缺陷、材料以及結(jié)構(gòu)之間的關(guān)聯(lián), 所以電子元器件的低頻噪聲特性可以用作質(zhì)量和可靠性檢驗(yàn)評(píng)估方法，也可以幫助提升產(chǎn)品品質(zhì)。我國(guó)是電子元器件產(chǎn)品生產(chǎn)和使用大國(guó)，基于低頻噪聲技術(shù)的電子元器件可靠性無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于促進(jìn)低頻噪聲技術(shù)的發(fā)展應(yīng)用和提高電子元器件產(chǎn)品品質(zhì)具有重要意義。

電子系統(tǒng)以及電子器件噪聲測(cè)試與應(yīng)用起始于洛倫茲1912年對(duì)電子隨機(jī)運(yùn)動(dòng)的研究, 其后隨著電子系統(tǒng)與電子器件的發(fā)展, 人們對(duì)噪聲測(cè)試研究的范圍也更加廣泛。電子元器件低頻噪聲參數(shù)測(cè)試方法是制定基于低頻噪聲參數(shù)的電子元器件可靠性無(wú)損評(píng)價(jià)方法的基礎(chǔ)。

相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)包括：

SJ/T 11765晶體管低頻噪聲參數(shù)測(cè)試方法

SJ/T 11766光電耦合器件低頻噪聲參數(shù)測(cè)試方法

SJ/T 11767 二極管低頻噪聲參數(shù)測(cè)試方法

SJ/T 11768電阻器低頻噪聲參數(shù)測(cè)試方法

SJ/T 11769 電子元器件低頻噪聲參數(shù)測(cè)試方法 通用要求

參考SJ/T 11769標(biāo)準(zhǔn)5.2章節(jié)中，對(duì)低頻噪聲測(cè)試系統(tǒng)的要求：

a）測(cè)試頻率范圍：最低頻率不高于1Hz，最高頻率不低于300kHz或被測(cè)電子元器件噪聲參數(shù)要求的測(cè)試頻率上限的10倍。

b）測(cè)試系統(tǒng)采樣率大于測(cè)試頻率上限的2倍。

c）測(cè)試系統(tǒng)的前置放大器增益誤差≤±1%。

d）測(cè)試系統(tǒng)的時(shí)間序列測(cè)試準(zhǔn)確度：時(shí)基不確定度≤2%，幅度不確定度≤5%。

e）測(cè)試系統(tǒng)的頻譜測(cè)試：頻譜分辨率優(yōu)于1Hz，頻率不確定度≤2%，幅度不確定度≤5%。

f）測(cè)試系統(tǒng)與被測(cè)電子元器件采取屏蔽盒等外界干擾抑制措施，以減少電、磁、光和機(jī)械等環(huán)境因素引入的干擾，同時(shí)采用低噪聲電源，減少系統(tǒng)自身的噪聲，從而保證測(cè)試系統(tǒng)本底噪聲比被測(cè)電子元器件的噪聲低一個(gè)數(shù)量級(jí)以上或滿(mǎn)足電子元器件噪聲測(cè)試的相關(guān)要求。

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