GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)低氣壓方法

標(biāo)準(zhǔn)概述與目的

標(biāo)準(zhǔn)名稱： GB/T 2423.21-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M：低氣壓》

等效采用： IEC 60068-2-13

核心目的： 用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下（如高海拔地區(qū)、航空運(yùn)輸或航天環(huán)境）的：

貯存、運(yùn)輸?shù)倪m應(yīng)性： 檢查產(chǎn)品在低氣壓環(huán)境下包裝或本身是否會損壞（如密封件破裂、容器變形）。

使用的可靠性： 評估產(chǎn)品在低氣壓環(huán)境下能否正常工作，特別是電氣性能是否會因氣壓變化而劣化（如介電強(qiáng)度下降、電弧擊穿、散熱不良）。

試驗(yàn)原理與模擬場景

該試驗(yàn)通過在密閉的低氣壓試驗(yàn)箱內(nèi)抽真空，模擬產(chǎn)品所處的低氣壓環(huán)境。其主要模擬兩種場景：

高海拔地理環(huán)境：

例如，在海拔5000米的高原地區(qū)，大氣壓約為標(biāo)準(zhǔn)海平面氣壓（約101.3 kPa）的一半。

產(chǎn)品在此環(huán)境下可能會面臨密封壓力失衡、電氣絕緣性能變化等問題。

航空/航天飛行環(huán)境：

飛機(jī)貨艙的非增壓艙或高空飛行的設(shè)備艙，氣壓可能低至數(shù)十甚至幾個千帕。

這是更嚴(yán)酷的考核，可能引發(fā)更嚴(yán)重的物理和電氣性能問題。

試驗(yàn)流程詳解

一項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的低氣壓試驗(yàn)通常遵循以下流程，其核心在于精確控制氣壓與時間的關(guān)系：

1、試驗(yàn)準(zhǔn)備：

樣品準(zhǔn)備： 確保樣品清潔、完好。

初始檢測： 在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下對樣品進(jìn)行全面的外觀檢查和電氣性能測量，記錄基線數(shù)據(jù)。

2、樣品安裝：

將樣品按正常使用位置放入低氣壓箱內(nèi)。注意樣品體積不應(yīng)超過箱體有效容積的1/3，以確?？諝饬魍?，避免局部過熱。

3、降壓/壓力保持：

以不超過10 kPa/min的速率將箱內(nèi)壓力降至規(guī)定值。

在規(guī)定的低壓下保持規(guī)定的時間。在此期間，根據(jù)試驗(yàn)?zāi)康模?/span>

• 貯存/運(yùn)輸模擬： 樣品不通電，僅承受低氣壓應(yīng)力。

• 運(yùn)行考核： 樣品需通電工作，并監(jiān)測其性能參數(shù)。

4、恢復(fù)：

保持時間結(jié)束后，以不超過10 kPa/min的速率將壓力恢復(fù)至正常值。

恢復(fù)后，樣品應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下放置足夠時間（如1-2小時），使其溫度穩(wěn)定。

5、最終檢測：

對樣品進(jìn)行與初始檢測相同的外觀和電氣性能檢查。

主要失效模式與合格判據(jù)

• 主要失效模式：

• 物理性損壞： 密封容器（如鋁電解電容器、電池、氣密元件）鼓脹、破裂；殼體或包裝變形。

• 電氣性能故障：

• 介電強(qiáng)度下降： 低氣壓下空氣稀薄，絕緣材料易被擊穿，產(chǎn)生電弧、電暈放電。

• 散熱不良： 空氣對流散熱能力減弱，導(dǎo)致元器件過熱，性能失效或損壞。

• 開關(guān)電?。?繼電器、開關(guān)等觸點(diǎn)在分?jǐn)鄷r電弧不易熄滅，可能燒毀觸點(diǎn)。

合格判據(jù)：

• 試驗(yàn)后，樣品應(yīng)無機(jī)械損傷（如破裂、永久變形）。

• 電氣性能應(yīng)符合產(chǎn)品規(guī)范要求，無參數(shù)漂移超標(biāo)或功能失靈。