標準概述與目的
標準名稱： GB/T 2423.21-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓》
等效采用： IEC 60068-2-13
核心目的： 用于確定元件、設備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下（如高海拔地區(qū)、航空運輸或航天環(huán)境）的：
貯存、運輸?shù)倪m應性： 檢查產(chǎn)品在低氣壓環(huán)境下包裝或本身是否會損壞（如密封件破裂、容器變形）。
使用的可靠性： 評估產(chǎn)品在低氣壓環(huán)境下能否正常工作，特別是電氣性能是否會因氣壓變化而劣化（如介電強度下降、電弧擊穿、散熱不良）。
試驗原理與模擬場景
該試驗通過在密閉的低氣壓試驗箱內(nèi)抽真空，模擬產(chǎn)品所處的低氣壓環(huán)境。其主要模擬兩種場景：
高海拔地理環(huán)境：
例如，在海拔5000米的高原地區(qū)，大氣壓約為標準海平面氣壓（約101.3 kPa）的一半。
產(chǎn)品在此環(huán)境下可能會面臨密封壓力失衡、電氣絕緣性能變化等問題。
航空/航天飛行環(huán)境：
飛機貨艙的非增壓艙或高空飛行的設備艙，氣壓可能低至數(shù)十甚至幾個千帕。
這是更嚴酷的考核，可能引發(fā)更嚴重的物理和電氣性能問題。
試驗流程詳解
一項標準的低氣壓試驗通常遵循以下流程，其核心在于精確控制氣壓與時間的關系：
1、試驗準備：
樣品準備： 確保樣品清潔、完好。
初始檢測： 在標準大氣條件下對樣品進行全面的外觀檢查和電氣性能測量，記錄基線數(shù)據(jù)。
2、樣品安裝：
將樣品按正常使用位置放入低氣壓箱內(nèi)。注意樣品體積不應超過箱體有效容積的1/3，以確?？諝饬魍?，避免局部過熱。
3、降壓/壓力保持：
以不超過10 kPa/min的速率將箱內(nèi)壓力降至規(guī)定值。
在規(guī)定的低壓下保持規(guī)定的時間。在此期間，根據(jù)試驗目的：
貯存/運輸模擬： 樣品不通電，僅承受低氣壓應力。
運行考核： 樣品需通電工作，并監(jiān)測其性能參數(shù)。
4、恢復：
保持時間結束后，以不超過10 kPa/min的速率將壓力恢復至正常值。
恢復后，樣品應在標準大氣條件下放置足夠時間（如1-2小時），使其溫度穩(wěn)定。
5、最終檢測：
對樣品進行與初始檢測相同的外觀和電氣性能檢查。
主要失效模式與合格判據(jù)
主要失效模式：
物理性損壞： 密封容器（如鋁電解電容器、電池、氣密元件）鼓脹、破裂；殼體或包裝變形。
電氣性能故障：
介電強度下降： 低氣壓下空氣稀薄，絕緣材料易被擊穿，產(chǎn)生電弧、電暈放電。
散熱不良： 空氣對流散熱能力減弱，導致元器件過熱，性能失效或損壞。
開關電弧： 繼電器、開關等觸點在分斷時電弧不易熄滅，可能燒毀觸點。
合格判據(jù)：
試驗后，樣品應無機械損傷（如破裂、永久變形）。
電氣性能應符合產(chǎn)品規(guī)范要求，無參數(shù)漂移超標或功能失靈。