一、標準概述:它是什么?
標準名稱: GB/T 34986-2017 《產(chǎn)品加速試驗方法通則》
標準定位: 這是一份指導(dǎo)性標準,而非具體的測試細則。它提供了如何科學地規(guī)劃、設(shè)計、實施和評估加速試驗的通用框架和原則。
核心目標: 通過施加比正常使用條件更嚴酷的應(yīng)力(如更高溫度、更大濕度、更強振動),在短時間內(nèi)激發(fā)產(chǎn)品的潛在缺陷,并預(yù)測其在正常使用條件下的壽命和可靠性。
核心價值:為什么需要加速試驗?
傳統(tǒng)可靠性試驗(如在正常條件下長時間運行)周期長、成本高。加速試驗的優(yōu)勢在于:
縮短研發(fā)周期:快速暴露設(shè)計缺陷,為改進設(shè)計提供數(shù)據(jù)支持。
降低開發(fā)成本:早期發(fā)現(xiàn)問題,避免批量生產(chǎn)后因召回和維修造成的巨大損失。
預(yù)測產(chǎn)品壽命:通過加速模型,預(yù)估產(chǎn)品的平均壽命(MTTF)或失效率。
質(zhì)量控制:用于篩選有缺陷的元器件或工藝不一致的產(chǎn)品。
二、加速試驗的基本原理
加速試驗的理論基礎(chǔ)是:產(chǎn)品的失效是由某些物理或化學過程(如氧化、疲勞、腐蝕)引起的,而這些過程的速率會隨著應(yīng)力的增加而加快。
核心加速模型:
標準中介紹了多種加速模型,最經(jīng)典的是基于阿倫尼烏斯方程的溫度加速模型:
公式: AF = exp[ (Ea/k) * (1/T_use - 1/T_stress) ]
參數(shù)解讀:
AF: 加速因子。例如 AF=50,表示試驗中1小時相當于正常使用50小時。
Ea: 失效機理的激活能(單位: eV)。這是關(guān)鍵參數(shù),不同失效模式(如電解電容干涸、半導(dǎo)體老化)的 Ea 值不同。
k: 玻爾茲曼常數(shù)。
T_use: 正常使用時的絕對溫度(開爾文)。
T_stress: 加速試驗時的絕對溫度(開爾文)。
簡單來說:提高溫度可以顯著加快化學反應(yīng)速率,從而快速引發(fā)失效。
三、加速試驗的主要類型
GB/T 34986-2017 闡述了以下幾種基本類型:
| 類型 | 核心思想 | 適用場景 | 舉例 |
| 定量加速試驗 | 已知加速模型,目標是通過試驗數(shù)據(jù)精確估算產(chǎn)品在正常應(yīng)力下的壽命 | 壽命預(yù)測、可靠性驗證。 | 對芯片進行高溫工作壽命試驗,預(yù)測其10年后的失效率。 |
| 定性加速試驗 | 不關(guān)心具體壽命,目標是通過高應(yīng)力快速激發(fā)并識別產(chǎn)品的失效模式和薄弱環(huán)節(jié)。 | 設(shè)計驗證、缺陷篩查、工藝改進。 | HALT: 通過逐步加大溫度和振動應(yīng)力,快速找到產(chǎn)品的操作極限和破壞極限 |
| 加速壽命試驗 | 定量試驗的一種。在加大應(yīng)力下進行壽命試驗,利用加速模型外推正常使用條件下的壽命分布。 | 評估耐磨性、疲勞壽命等。 | 對開關(guān)進行加速機械疲勞測試,預(yù)估其可點擊次數(shù)。 |
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