一、標(biāo)準(zhǔn)概述：它是什么？
標(biāo)準(zhǔn)名稱： GB/T 34986-2017 《產(chǎn)品加速試驗(yàn)方法通則》
標(biāo)準(zhǔn)定位： 這是一份指導(dǎo)性標(biāo)準(zhǔn)，而非具體的測試細(xì)則。它提供了如何科學(xué)地規(guī)劃、設(shè)計(jì)、實(shí)施和評(píng)估加速試驗(yàn)的通用框架和原則。
核心目標(biāo)： 通過施加比正常使用條件更嚴(yán)酷的應(yīng)力（如更高溫度、更大濕度、更強(qiáng)振動(dòng)），在短時(shí)間內(nèi)激發(fā)產(chǎn)品的潛在缺陷，并預(yù)測其在正常使用條件下的壽命和可靠性。
核心價(jià)值：為什么需要加速試驗(yàn)？
傳統(tǒng)可靠性試驗(yàn)（如在正常條件下長時(shí)間運(yùn)行）周期長、成本高。加速試驗(yàn)的優(yōu)勢(shì)在于：
縮短研發(fā)周期：快速暴露設(shè)計(jì)缺陷，為改進(jìn)設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)支持。
降低開發(fā)成本：早期發(fā)現(xiàn)問題，避免批量生產(chǎn)后因召回和維修造成的巨大損失。
預(yù)測產(chǎn)品壽命：通過加速模型，預(yù)估產(chǎn)品的平均壽命（MTTF）或失效率。
質(zhì)量控制：用于篩選有缺陷的元器件或工藝不一致的產(chǎn)品。
二、加速試驗(yàn)的基本原理
加速試驗(yàn)的理論基礎(chǔ)是：產(chǎn)品的失效是由某些物理或化學(xué)過程（如氧化、疲勞、腐蝕）引起的，而這些過程的速率會(huì)隨著應(yīng)力的增加而加快。
核心加速模型：
標(biāo)準(zhǔn)中介紹了多種加速模型，最經(jīng)典的是基于阿倫尼烏斯方程的溫度加速模型：
公式： AF = exp[ (Ea/k) * (1/T_use - 1/T_stress) ]
參數(shù)解讀：
AF： 加速因子。例如 AF=50，表示試驗(yàn)中1小時(shí)相當(dāng)于正常使用50小時(shí)。
Ea： 失效機(jī)理的激活能（單位： eV）。這是關(guān)鍵參數(shù)，不同失效模式（如電解電容干涸、半導(dǎo)體老化）的 Ea 值不同。
k： 玻爾茲曼常數(shù)。
T_use： 正常使用時(shí)的絕對(duì)溫度（開爾文）。
T_stress： 加速試驗(yàn)時(shí)的絕對(duì)溫度（開爾文）。
簡單來說：提高溫度可以顯著加快化學(xué)反應(yīng)速率，從而快速引發(fā)失效。
三、加速試驗(yàn)的主要類型
GB/T 34986-2017 闡述了以下幾種基本類型：
| 類型 | 核心思想 | 適用場景 | 舉例 |
| 定量加速試驗(yàn) | 已知加速模型，目標(biāo)是通過試驗(yàn)數(shù)據(jù)精確估算產(chǎn)品在正常應(yīng)力下的壽命 | 壽命預(yù)測、可靠性驗(yàn)證。 | 對(duì)芯片進(jìn)行高溫工作壽命試驗(yàn)，預(yù)測其10年后的失效率。 |
| 定性加速試驗(yàn) | 不關(guān)心具體壽命，目標(biāo)是通過高應(yīng)力快速激發(fā)并識(shí)別產(chǎn)品的失效模式和薄弱環(huán)節(jié)。 | 設(shè)計(jì)驗(yàn)證、缺陷篩查、工藝改進(jìn)。 | HALT： 通過逐步加大溫度和振動(dòng)應(yīng)力，快速找到產(chǎn)品的操作極限和破壞極限 |
| 加速壽命試驗(yàn) | 定量試驗(yàn)的一種。在加大應(yīng)力下進(jìn)行壽命試驗(yàn)，利用加速模型外推正常使用條件下的壽命分布。 | 評(píng)估耐磨性、疲勞壽命等。 | 對(duì)開關(guān)進(jìn)行加速機(jī)械疲勞測試，預(yù)估其可點(diǎn)擊次數(shù)。 |
